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發(fā)布時間: 2024-08-14
產(chǎn)品型號: GDAT-A
廠商性質(zhì): 生產(chǎn)廠家
所 在 地: 北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號
產(chǎn)品特點: 絕緣高頻介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀
絕緣高頻介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
絕緣高頻介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。
1.測試注意事項
a.本儀器應(yīng)水平安放;
b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;
c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當接近諧振點時請緩調(diào);
d.被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。
2.高頻線圈的Q值測量(基本測量法)
儀器技術(shù)指標:
☆Q值測量:
a.Q值測量范圍:5~999。
b.Q值量程分檔:30、100、300、999、自動換檔。
c.標稱誤差
頻率范圍:25kHz~10MHz;
固有誤差:≤5%±滿度值的2%;
工作誤差:≤7%±滿度值的2%;
頻率范圍:10MHz~50MHz;
固有誤差:≤7%±滿度值的2%;工作誤差:≤10%±滿度值的2%。
☆電感測量:
a.測量范圍:0.1μH~1H。
b.分 檔:分七個量程。
0.1~1μH,
1~10μH,
10~100μH,
0.1~lmH,
1~10mH,
10~100mH,
100 mH~1H。
☆電容測量:
a.測量范圍:
1~460pF(460pF以上的電容測量見使用規(guī)則);
b.電容量調(diào)節(jié)范圍
主調(diào)電容器:
40~500pF;
準 確 度:
150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
微調(diào)電容量:
-3pF~0~+3pF;
準 確 度:
±0.2pF。
☆振蕩頻率:
a.振蕩頻率范圍:
25kHz~50MHz;
b.頻率分檔
25~74kHz,
74~213kHz,
213-700kHz,
700kHz~1.95MHz,
1.95MHz~5.2MHz,
5.2MHz~17MHz,
17~50MHz。
c.頻率誤差:2×10-4±1個字。
☆Q合格指示預置功能,預置范圍:5~999。
正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
☆試樣尺寸
圓片形:
厚度2+0.5mm,
直徑為Φ30~40mm(ε<12時),
Φ25~35mm(ε=12~30時),
Φ15~20mm(ε>30時)
☆其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
☆ Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。