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介電常數介質損耗測試儀附表一,介質損耗測試系統主要性能參數一覽表
BH916測試裝置 GDAT高頻Q表
平板電容極片 Φ50mm/Φ38mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調節范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm 主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍2~1023
介電常數介質損耗測試儀特點
1、《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件,它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。
平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。
通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。
從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。
BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品,精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
2、基于串聯諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統的二次儀表,其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的zui高成就,隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。
該表具有*人機界面,采用LCD液晶屏顯示各測量因子:Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。
高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,頻率精度高達1×10-6。
國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)。
把被測材料作為平板電容的介質,與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路,以獲取zui高的測試靈敏度。
因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。
GDAT高頻Q表的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。
操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無須關注量程和換算,*摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。
3、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT),實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化,tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理,因而提高了數據的精確度和測量的同一性,是人工讀值和人工計算*的。
4、一個高品質因數(Q)的電感器是測量系統*的輔助工具,關乎測試的靈敏度和精度,在系統中它與平板電容(BH916)構成了基于串聯諧振的測試回路。
本系統推薦的電感器為LKI-1電感組共由9個高性能電感器組成,以適配不同的檢測頻率。
使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。
1.測試注意事項
a.本儀器應水平安放;
b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;
c.調節主調電容或主調電容數碼開關時,當接近諧振點時請緩調;
d.被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數所帶來的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。
2.高頻線圈的Q值測量(基本測量法)
A.直接法
a.將被測線圈接在“Lx”接線柱上;
b.選擇適當的工作頻段和工作頻率;
c.先調調諧電容器到諧振點,即Q表讀數達zui大,此讀數即為被測電感的有效Q值(Qe),若需得到被測電感的真實Q值(QT),則應先測出線圈分布電容C0,然后照下式修正
C1是調諧電容器諧振時讀數,如諧振時C1的讀數很大,C0只占很小比例,則有效Q值(Qe)和真實Q值(QT)差別可以忽略。
當Q值量程選擇自動切換時,在調諧時,如遇量程自動轉換,應停頓一下,待Q值穩定后,根據讀數值變大或變小,確定繼續調電容的方向。
B.變容法
a.照直讀法“a-d”進行,記下諧振時電容讀數C1和Q1;
b.調節主調電容數碼開關,使Q值二次指示均為Q1的0.707時,記下此時兩次電容讀數的差數ΔC,
倘要得到精確結果,則線圈的分布電容應加在C1之內,并應使主調電容作多次偏調,然后取其平均讀數。
測Q值較高的線圈時,Q值下降到0.707 Q1時,電容偏調很小,讀數誤差較大,這時可將主電容作較大偏調(10%以內),記下偏調數ΔC和偏調后的Q值讀數Q2,這時Q值表達式為:
C. 變頻法
a.按直讀法“a-d”進行,記下諧振時讀數C1和Q1以及頻率讀數f0;
b.改變信號源的頻率使Q值二次指示為Q1的0.707(一次容性失諧,一次感性失諧),記下此時二次頻率讀數差值Δf,這時回路的真實QT為:
考慮到線圈的分布電容時,線圈的有效Q值為
變頻法測量Q值一般表達式為(未考慮分布電容):
注:Δf是頻率偏調數,Q1為諧振時Q表讀數,Q2是偏調后Q表讀數。
3.高頻線圈電感值的測量
a.將被測線圈接在“Lx”接線柱上,接觸要良好;
b.根據線圈大約電感值,按所需選一個合適的頻率以保證能諧振;
c.如要得到真實電感數(LT),必須先測得電感分布電容量C0,如分布電容較小的話,在調到諧振點后,記下主調電容C1,然后再將主調電容量調在“C1+C0”值上,這時度盤的電感讀數乘以對應的倍數,就是所求真實電感讀數,也可按以下公式計算求得:
f被測電感小于1μH時,按上法測得電感值還應減去儀器中測試回路本身剩余電感“L0”(A L0約26nH,,C L0約7nH)。
4.高頻線圈分布電容C0的測量
A.倍頻率法
如線圈的分布電容較大,可用此法作近似測試。
將被測線圈按在“Lx””接線柱上,調調諧電容器到zui大電容數值,調訊號源頻率到諧振,令諧振時頻率和指示調諧電容分別是f1和C1。然后將訊號源頻率調到f2 (f2=n f1),再調電容器度盤到諧振點,此時電容讀數為C2,根據下式即可求出分布電容量(測量時微調電容到零)
如取n=2,則為:C0=(C1-4C2)/ 3。
若取不同C1進行多次測量后取一個平均值,則測試結果將較為準確。
B.自然頻率法(此法可獲得較準確的結果)
a.將被測線圈接在“Lx”接線柱上;
b.將微調電容器度盤調至零,調諧電容器度盤調到zui大電容值C1;
c.調訊號源頻率,使回路諧振,該頻率為f1;
d.取下被測線圈,換上一個能在調諧電容器調節范圍內和十倍于f1頻率諧振的電感;
e.訊號源調到10 f1位置,調節調諧電容器到諧振點;
f.將被測線圈接在“Cx”兩端,調節調諧電容器達諧振,此時視電容讀數是增加還是減小。若增加,則應將振蕩器頻率調高些,若減小,則頻率調低些;
g.再取下被測線圈,調節主調電容達到諧振;
h.重復步驟“f”、“g”直到某一頻率,被測線圈接上“Cx”兩端和不接上均不改變諧振點,這一頻率即為被測線圈的自然諧振頻率f2,它的C0數值為:
C0=C1 (f1/f2)2
注:測量中所需輔助線圈可由LKI-l電感組提供便利。
5.電容器容量的測量
A. 在測量范圍內的小于主調電容量的電容器的測量
a.選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端;
b.將調諧電容器調到zui大值附近,令這個電容是C1,如未知電容是小數值的,C1應調到較小電容值附近,以便達到盡可能高的分辨率;
c.調訊號源的頻率,使測試回路諧振,令諧振器Q的讀數為Q1;
d.將被測電容接在“Cx”兩端,調節調諧電容器,使測試電路再諧振,令新的調諧電容值為C2和指示Q值為Q2。
被測電容的有效電容為:Cx= C1-C2
電容器損耗角正切為:
電容器的有效并聯電阻為:
C0為回路諧振電感的自身電容。
B.大于調諧電容量的電容器用可替代法測量
a. 取一只適當容量的標準電容量,其容量為C3,將它接在“Cx”接線柱上;
b.按5A/a-c各測試步驟;
c.取下標準電容器,將被測電容接到“Cx”接線柱,調節調諧電容器到諧振,此時主調電容量讀數為C2,則Cx可由下式得到:
Cx=C3+ C1-C2
6.Q合格范圍預置功能使用(AS2853A暫時只能設置下限值)
Q合格范圍預置功能特別適用于工廠需大批量測試某同一規格元件的Q值,當該元件Q值超過某一給定值或在一定范圍內即為合格,這時液晶顯示屏顯示“OK”,儀器同時鳴叫提醒,這樣可減輕工人視力疲勞,同時大大加快了測試速度。
維修
1.新購儀器的檢查
新購的儀器能先用LKI-1電感組,將各個電感在各個不同頻率測試Q值,把測試的情況,例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環境條件逐一詳細記錄,并把記錄保存起來,以供以后維修時作參考。
LKI-1電感組是測試時作輔助電感用的,不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著測試環境條件不同,測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。
2.使用和保養
高頻Q表是比較精密的阻抗測量儀器,在合理使用和注意保養情況下,才能保證長期穩定和較高的測試精度。
a.熟悉本說明書,正確地使用儀器;
b.使儀器經常保持清潔、干燥;
c.本儀器保用期為18個月,如發現機械故障或失去準確度,可以原封送回本廠,免費修理。
北廣電性能及橡膠塑料常用儀器
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BEST 系列 體積表面電阻率測定儀(可測試固體液體膏體粉末材料)
BEST 系列 碳素材料電阻率測試儀
BES T系列 電線電纜導體半導體材料電阻率測試儀
M - 系列 橡膠塑料滑動摩擦試驗機(國標,非國標,可定制)
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GDAT系列 學校介電常數介質損耗測試儀
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BQS 系列 工頻介電常數介質損耗測試儀
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BWK系列 熱變形維卡軟化點溫度測定儀
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